厚さ計測システム カタログ(2,154KB)
資料請求フォーム(488KB)
アプリケーションノート金属板の厚さ分布測定(213KB)
シリコンウェハ厚さ測定(61KB)


ノメートル分解能の厚さ計測を実現、最高分解能 3nm

応用分野

シリコンウエハの測定(太陽電池用、8 inch ウエハ、12 inch ウエハなど)

  • 太陽電池の厚さ選別(100μm、200μmの厚さを手動測定台によって選別)
  • シリコンウエハの厚さ選別(400μ、500μm、600μmの厚さを自動機によって選別)
  • 研磨量の測定(研磨工程前後の厚さを測定)

金属の測定(銅板、ステンレス板、アルミ板 など)

  • 銅板製造機の走行している銅板の厚さ測定(200μmの厚さの銅板を走行中に測定)
  • 自動車用部品の厚さ測定(30mm の厚さのブレーキパット用円板を手動回転させて厚さ測定)
  • ハードディスク用アルミ板の厚さ測定

両面を金属で覆われた積層板の測定

  • 両面を銅薄で覆われたプリント基板の測定

銅板の厚み検出
ウェハ又はハードディスクの厚み検出

性能

項目 性能
システム構成 ST-3541(2 台)、ST-0403-xxx(2 本)、ST-3540(1 台)、VOAC7521A(1 台)
測定方式 静電容量方式
被測定物 シリコンウェハ、金属、半導体
厚さ計測範囲 1μm~ 99.9999mm   (基準材料± センサ測定範囲)
※( 例) ST-0403-500 プローブ使用: 基準500μm の場合、500±200μm になります。
センサ部基本性能 (ST-3541)
(ST-3540)
(ST-0403-xxx)
試料からのギャップ 測定範囲 最高分解能 直線性 使用プローブ
200μm ±80μm 3nm 0.1% ST-0403-200
500μm ±200μm 5nm 0.1% ST-0403-500
1000μm ±400μm 10nm 0.2% ST-0403-1000
※試料からのギャップとは、測定試料からのプローブまでの設定距離です。
※測定範囲はどれか一つのみが選択可能です。(システムは指定値により調整・出荷されます)
表示部性能
(VOAC7521A)
表示(測定結果はスケーリング演算後VOAC7521A に表示されます)
測定厚さ X 最大表示 備考
1μm =< X < 10μm 9. 99999〔μ〕 ※測定厚さとはスケーリング演算後の実際の測定厚さです。
※有効な表示分解能はセンサ部の最高分解能によって制限されます。
10μm =< X < 100μm 99. 9999〔μ〕
100μm =< X < 1mm 999. 999〔μ〕
1mm =< X < 10mm 9. 99999〔m〕
10mm =< X < 100mm 99. 9999〔m〕
単位 [μm] は、μで表示。  [mm] は、mで表示。
表示周期 約4 回/秒 (約20 回/秒に切り換え可能)
機能 スケーリング演算、相対値演算、コンパレータ演算、統計演算(MAX、MIN)、平均
外部インターフェース 標準:RS-232C オプション:GP-IB、イーサネット、デジタルI/O、RS-USB 変換
電源 AC100V (ST-3540、VOAC7521A)  オプション:(AC110V、220V、240V)
周波数 50/60Hz
消費電力 最大30VA (ST-3540)、 最大21VA (VOAC7521A)
使用温湿度範囲 0℃~ 40℃ 80%RH 以下 (ST-3541、ST-3540、VOAC7521A)
大きさ・質量
ST-3541 約110(W)× 35(H)× 140(L)[mm] 約0.4kg
ST-3540 約110(W)× 110(H)× 180(L)[mm] 約1.8kg
VOAC7521A 約210(W)× 99(H)× 353(L)[mm] 約3.5kg

プローブ外形寸法図(ST-0403 共通)

外形寸法図
プローブ写真